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Diagnóstico de averías en bobinados de estátor de las máquinas eléctricas rotativas

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Autores/as: Manuel Armando Mazzoletti ; Guillermo Rubén Bossio ; Cristian Hernan de Angelo

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere 2017 CONICET Digital (SNRD) acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

En esta Tesis se proponen estrategias para la detección y el diagnóstico de Cortocircuitos Entre Espiras (CCEE) en bobinados de estátor de las Máquinas Síncronas de Imanes Permanentes (MSIP). La detección de un CCEE en su estado incipiente es fundamental con el fin de reducir la probabilidad de ocurrencia de fallas de mayor gravedad, evitar las paradas no programadas, disminuir los daños y perjuicios económicos y minimizar los riesgos de accidentes.Para analizar los efectos que ocasiona un CCEE en la MSIP se desarrollan dos modelos dinámicos que incluyen la avería en cualquiera de los bobinados de fase. Estos modelos son validados mediante simulación y resultados experimentales.Basándose en estos nuevos modelos analíticos, y a partir de la información contenida en las corrientes y/o tensiones medidas sobre los terminales de la MSIP, se proponen dos estrategias de detección y diagnóstico con enfoques diferentes. Una de ellas se implementa usando modelos de procesos y la otra a partir de modelos de señal.La estrategia de diagnóstico basada en modelos de procesos utiliza un observador de estados y las mediciones de las señales de tensión y de corriente. El residuo para la detección de averías se obtiene de la diferencia entre las corrientes medidas y las estimadas. Este residuo se separa luego en componentes de secuencia con el objetivo de hacerlo menos sensible a otras perturbaciones y al error de los parámetros del observador.La estrategia de diagnóstico basada en modelos de señal utiliza las tensiones de fase y la tensión medida sobre el punto medio de una fase. En este caso la diferencia entre las tensiones de cada mitad del bobinado se utiliza como residuo para la detección de averías. A diferencia de las propuestas basadas en las señales de corriente, el procesamiento de la tensión de punto medio permite detectar un CCEE incipiente incluso frente a desequilibrios de la tensión de alimentación, cargas asimétricas u otras perturbaciones.Las propuestas presentadas en esta Tesis permiten detectar los CCEE con la MSIP en línea y en condiciones de funcionamiento tanto estacionarias como transitorias y son poco sensibles a otras perturbaciones reduciendo la posibilidad de falsos diagnósticos. Las mismas son validadas tanto por simulación como de manera experimental mediante prototipos de laboratorio.
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Diagrammatic Representation and Inference: 4th International Conference, Diagrams 2006, Stanford, CA, USA, June 28-30, 2006, Proceedings

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ISBNs: 978-3-540-35623-3 (impreso) 978-3-540-35624-0 (en línea)

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No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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Diamond Bessie & The Shepherds

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ISBNs: 9781574410570 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere 1972 Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Otras humanidades  

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Dianli xitong baohu yu kongzhi

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ISSNs 1674-3415 (impreso)

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Institución detectada Período Navegá Descargá Solicitá
No requiere desde ene. 2008 / hasta dic. 2025 Directory of Open Access Journals acceso abierto

Cobertura temática: Ciencias naturales - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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DiDaT Weißbuch: Verantwortungsvoller Umgang mit digitalen Daten – Orientierungen eines transdisziplinären Prozesses

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No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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Die zivilrechtliche Haftung für autonome Drohnen unter Einbezug von Zulassungs- und Betriebsvorschriften

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No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Educación - Derecho  

libros Acceso Abierto
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Different Types of Field-Effect Transistors - Theory and Applications: Different Types of Field-Effect Transistors - Theory and Applications

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ciencias de la tierra y ciencias ambientales relacionadas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

libros
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Differential Evolution: In Search of Solutions

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Autores/as: Vitaliy Feoktistov

ISBNs: 978-0-387-36895-5 (impreso) 978-0-387-36896-2 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Matemáticas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

actas de congreso
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Digest of the LEOS Summer Topical Meetings Biophotonics/Optical Interconnects and VLSI Photonics/WBM Microcavities

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ISBNs: 0-7803-8306-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica  

revistas Acceso Abierto
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Digital Chemical Engineering

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ISSNs 2772-5081 (en línea)

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Institución detectada Período Navegá Descargá Solicitá
No requiere desde ene. 2021 / hasta dic. 2025 Directory of Open Access Journals acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería química