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On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2011 IEEE 17th International

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ISBNs: 978-1-4577-1053-7 (impreso)

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No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2012 IEEE 18th International

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ISBNs: 978-1-4673-2082-5 (impreso)

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No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2013 IEEE 19th International

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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On-Line Testing Symposium, 2004. IOLTS 2004. Proceedings. 10th IEEE International

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ISBNs: 0-7695-2180-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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On-Line Testing Symposium, 2005. IOLTS 2005. 11th IEEE International

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ISBNs: 0-7695-2406-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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On-Line Testing Symposium, 2006. IOLTS 2006. 12th IEEE International

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ISBNs: 0-7695-2620-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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On-Line Testing Symposium, 2007. IOLTS 07. 13th IEEE International

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ISBNs: 0-7695-2918-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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On-Line Testing Symposium, 2008. IOLTS '08. 14th IEEE International

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ISBNs: 978-0-7695-3264-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

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On-Line Testing Symposium, 2009. IOLTS 2009. 15th IEEE International

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ISBNs: 978-1-4244-4596-7 (impreso) 978-1-4244-4595-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

libros Acceso Abierto
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Once Upon a Virus: Once Upon a Virus

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ISBNs: 9780874215878 (impreso)

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Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ciencias de la salud