Catálogo de publicaciones

Compartir en
redes sociales


Navegación

Tipo

Acceso

Plataformas

Temática

Mostrando 10 de 20.023 registro(s)

Filtros temática quitar todos

actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Current Trends in Engineering and Technology (ICCTET)

Más información

ISBNs: 978-1-4799-2583-4 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Current Trends in Engineering and Technology (ICCTET)

Más información

ISBNs: 978-1-4799-7986-8 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental - Biotecnología médica  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference On Cyber Conflict (CYCON)

Más información

ISBNs: 978-9949-9544-0-7 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber Conflict (CYCON)

Más información

ISBNs: 978-1-4673-1270-7 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber Conflict (CYCON)

Más información

ISBNs: 978-1-4799-0450-1 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber Conflict (ICCC)

Más información

ISBNs: 978-1-61284-245-5 (impreso) 978-9949-9040-3-7 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber Security (CyberSecurity)

Más información

ISBNs: 978-1-4799-0219-4 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber Security, Cyber Warfare and Digital Forensic (CyberSec)

Más información

ISBNs: 978-1-4673-1425-1 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber Security, Cyber Warfare and Digital Forensic (CyberSec)

Más información

ISBNs: 978-1-4799-3905-3 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
Agregar a Mi catálogo

International Conference on Cyber-Enabled Distributed Computing and Knowledge Discovery (CyberC)

Más información

ISBNs: 978-1-4244-8434-8 (impreso) 978-0-7695-4235-5 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática