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actas de congreso
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Test Symposium, 2005. European

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ISBNs: 0-7695-2341-2 (impreso)

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No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium, 2005. Proceedings. 14th Asian

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ISBNs: 0-7695-2481-8 (impreso)

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No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium, 2006. ATS '06. 15th Asian

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ISBNs: 0-7695-2628-4 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium, 2006. ETS '06. Eleventh IEEE European

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ISBNs: 0-7695-2566-0 (impreso)

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No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium, 2007. ETS '07. 12th IEEE European

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ISBNs: 0-7695-2827-9 (impreso)

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No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Symposium, 2007. ETS '07. 12th IEEE European

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ISBNs: 0-7695-2827-9 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Test Workshop (LATW), 2013 14th Latin American

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ISBNs: 978-1-4799-0595-9 (impreso)

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No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías  


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Test Workshop, 2009. LATW '09. 10th Latin American

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ISBNs: 978-1-4244-4207-2 (impreso) 978-1-4244-4206-5 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Testability Assessment, 2004. IWoTA 2004. Proceedings. First International Workshop on

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ISBNs: 0-7803-8851-8 (impreso)

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No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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Testing: Academic and Industrial Conference-Practice And Research Techniques, 2006. TAIC PART 2006. Proceedings

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ISBNs: 0-7695-2672-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales