Catálogo de publicaciones

Compartir en
redes sociales

Límite

Ordenar

Mostrando 10 de 3.814 registro(s)

Filtros temática quitar todos

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Applied Measurements for Power Systems (AMPS)

ISBNs: 978-1-4673-5571-1 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

ISBNs: 978-1-4577-2104-5 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4673-3043-5 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2012	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Ingenieria ambiental

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2241-6 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2464-8 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 0-7695-2706-X (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2006	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-3365-0 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2008	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-0-7695-2885-4 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE Jordan Conference on Applied Electrical Engineering and Computing Technologies (AEECT)

ISBNs: 978-1-4799-2305-2 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales - Biotecnología médica

actas de congreso

Agregar a Mi catálogo

IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS)

ISBNs: 978-1-4799-2506-3 (impreso)

Disponibilidad

Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2014	IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

Catálogo de publicaciones

Navegación

Tipo

Acceso

Plataformas

Temática

IEEE International Workshop on Applied Measurements for Power Systems (AMPS)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Computational Advances in Multi-Sensor Adaptive Processing (CAMSAP)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Disponibilidad

IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

Disponibilidad

IEEE Jordan Conference on Applied Electrical Engineering and Computing Technologies (AEECT)

Disponibilidad

IEEE Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS)

Disponibilidad