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actas de congreso
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IEEE Visual Communications and Image Processing (VCIP)

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ISBNs: 978-1-4577-1321-7 (impreso) 978-1-4577-1320-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE Visual Communications and Image Processing (VCIP)

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ISBNs: 978-1-4673-4405-0 (impreso) 978-1-4673-4406-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE Visual Communications and Image Processing (VCIP)

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ISBNs: 978-1-4799-0288-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE VLSI Packaging Workshop of Japan (VPWJ)

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ISBNs: 978-1-4244-3498-5 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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ISBNs: 978-1-4244-6649-8 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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ISBNs: 978-1-61284-657-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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ISBNs: 978-1-4673-1073-4 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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ISBNs: 978-1-4673-5542-1 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


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IEEE VLSI Test Symposium (VTS)

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ISBNs: 0-7695-2134-7 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales