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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

ISBNs: 978-1-4673-3123-4 (impreso) 978-1-4673-3124-1 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2012	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2013	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

ISBNs: 978-1-4244-3532-6 (impreso) 978-1-4244-3533-3 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2009	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

ISBNs: 978-1-4244-7634-3 (impreso) 978-1-4244-7633-6 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2010	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Computer Architectures for Machine Perception

ISBNs: 0-7803-8612-4 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Critical Infrastructure Protection (CRIS)

ISBNs: 0-7695-2426-5 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT)

ISBNs: 0-7803-8950-6 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2004	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT)

ISBNs: 1-4244-0034-1 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2005	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Databases for Next Generation Researchers (SWOD)

ISBNs: 1-4244-0903-9 (impreso) 1-4244-0904-7 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2007	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

ISBNs: 978-1-4577-1713-0 (impreso)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2011	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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IEEE International Workshop on Computer Aided Modeling and Design of Communication Links and Networks (CAMAD)

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IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT)

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IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

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