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Mostrando 10 de 166.819 registro(s)


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2010 Workshop on

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ISBNs: 978-1-4244-7844-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2010 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2011 Workshop on

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ISBNs: 978-1-4577-1463-4 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2011 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería mecánica - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2012 Workshop on

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ISBNs: 978-1-4673-2900-2 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2012 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2013 Workshop on

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ISBNs: 978-0-7695-5059-6 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC), 2014 Workshop on

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Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2014 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2007. FDTC 2007. Workshop on

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ISBNs: 978-0-7695-2982-0 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  


actas de congreso
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Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography, 2008. FDTC '08. 5th Workshop on

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ISBNs: 978-0-7695-3314-8 (impreso)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias de la computación e información  


Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

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ISBNs: 978-0-387-25742-6 (impreso) 978-0-387-25743-3 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  


libros Acceso Abierto
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Fault Lines in China's Economic Terrain

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Autores/as: K. C. Yeh ; Sungho Lee ; Benjamin Zycher ; Nicholas Eberstadt ; Charles Jr. Wolf

ISBNs: 978-0-83303-344-4 (impreso) 978-0-83303-604-9 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No requiere 2003 JSTOR acceso abierto

Cobertura temática: Ciencia política  


Fault-Diagnosis Systems: An Introduction from Fault Detection to Fault Tolerance

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ISBNs: 978-3-540-24112-6 (impreso) 978-3-540-30368-8 (en línea)

Disponibilidad
Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática