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actas de congreso

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2017 IEEE 28th International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE)

ISBNs: 978-1-5386-0942-2 (impreso) 978-1-5386-0941-5 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 29th International Conference on Tools with Artificial Intelligence (ICTAI)

ISBNs: 978-1-5386-3877-4 (impreso) 978-1-5386-3876-7 (en línea)

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No detectada	2017	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 2nd Advanced Information Technology, Electronic and Automation Control Conference (IAEAC)

ISBNs: 978-1-4673-8980-8 (impreso) 978-1-4673-8979-2 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 2nd Information Technology, Networking, Electronic and Automation Control Conference (ITNEC)

ISBNs: 978-1-5090-6415-1 (impreso) 978-1-5090-6414-4 (en línea)

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No detectada	2017	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 2nd International Conference on Automatic Control and Intelligent Systems (I2CACIS)

ISBNs: 978-1-5386-0847-0 (impreso) 978-1-5386-0846-3 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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2017 IEEE 2nd International Conference on Big Data Analysis (ICBDA)

ISBNs: 978-1-5090-3620-2 (impreso) 978-1-5090-3619-6 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 2nd International Conference on Cloud Computing and Big Data Analysis (ICCCBDA)

ISBNs: 978-1-5090-4500-6 (impreso) 978-1-5090-4499-3 (en línea)

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No detectada	2017	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 2nd International Conference on Opto-Electronic Information Processing (ICOIP)

ISBNs: 978-1-5090-6253-9 (impreso) 978-1-5090-6252-2 (en línea)

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Institución detectada	Año de publicación	Navegá	Descargá	Solicitá
No detectada	2017	IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas

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2017 IEEE 2nd International Conference on Signal and Image Processing (ICSIP)

ISBNs: 978-1-5386-0970-5 (impreso) 978-1-5386-0969-9 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática

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2017 IEEE 2nd International Verification and Security Workshop (IVSW)

ISBNs: 978-1-5386-1709-0 (impreso) 978-1-5386-1708-3 (en línea)

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Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales

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2017 IEEE 2nd International Conference on Automatic Control and Intelligent Systems (I2CACIS)

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2017 IEEE 2nd International Conference on Big Data Analysis (ICBDA)

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2017 IEEE 2nd International Conference on Cloud Computing and Big Data Analysis (ICCCBDA)

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2017 IEEE 2nd International Conference on Opto-Electronic Information Processing (ICOIP)

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