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Non-Volatile Memory Technology Symposium, 2004

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ISBNs: 0-7803-8726-0 (impreso)

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No detectada 2004 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Memory Technology Symposium, 2005

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ISBNs: 0-7803-9408-9 (impreso)

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No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Memory Technology Symposium, 2006. NVMTS 2006. 7th Annual

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ISBNs: 0-7803-9738-X (impreso)

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No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Memory Technology Symposium, 2007. NVMTS '07

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ISBNs: 978-1-4244-1362-1 (impreso) 978-1-4244-1362-1 (en línea)

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No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Memory Technology Symposium, 2008. NVMTS 2008. 9th Annual

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ISBNs: 978-1-4244-3659-0 (impreso) 978-1-4244-2411-5 (en línea)

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No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop, 2006. IEEE NVSMW 2006. 21st

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ISBNs: 1-4244-0027-9 (impreso)

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No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop, 2007 22nd IEEE

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ISBNs: 1-4244-0753-2 (impreso) 1-4244-0753-2 (en línea)

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No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Non-Volatile Semiconductor Memory Workshop, 2008 and 2008 International Conference on Memory Technology and Design. NVSMW/ICMTD 2008. Joint

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ISBNs: 978-1-4244-1546-5 (impreso) 978-1-4244-1547-2 (en línea)

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No detectada 2008 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Nondestructive Evaluation/Testing: New Technology and Application (FENDT), 2013 Far East Forum on

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ISBNs: 978-1-4673-6018-0 (impreso)

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No detectada 2013 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ciencias físicas - Ingeniería y tecnología - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

libros Acceso Abierto
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Nondestructive Testing in Composite Materials

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978-3-03943-732-0 (en línea)

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No requiere Directory of Open access Books acceso abierto

Cobertura temática: Ingeniería y tecnología - Ingeniería de los materiales