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actas de congreso
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Testbeds and Research Infrastructure for the Development of Networks and Communities, 2007. TridentCom 2007. 3rd International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-0739-2 (impreso) 978-1-4244-0739-2 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Testbeds and Research Infrastructures for the Development of Networks and Communities and Workshops, 2009. TridentCom 2009. 5th International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-2846-5 (impreso) 978-1-4244-2847-2 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Testbeds and Research Infrastructures for the Development of Networks and Communities, 2005. Tridentcom 2005. First International Conference on

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ISBNs: 0-7695-2219-X (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Testbeds and Research Infrastructures for the Development of Networks and Communities, 2006. TRIDENTCOM 2006. 2nd International Conference on

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ISBNs: 1-4244-0106-2 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Testing: Academic and Industrial Conference-Practice And Research Techniques, 2006. TAIC PART 2006. Proceedings

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ISBNs: 0-7695-2672-1 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

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Testing: Academic and Industrial Conference Practice and Research Techniques-MUTATION, 2007. TAICPART-MUTATION 2007

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ISBNs: 978-0-7695-2984-4 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2007 IEEE Xplore

Cobertura temática: Otras ingenierías y tecnologías - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

actas de congreso
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Testing and Diagnosis, 2009. ICTD 2009. IEEE Circuits and Systems International Conference on

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ISBNs: 978-1-4244-2587-7 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2009 IEEE Xplore

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Ingeniería de los materiales  

libros
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Testing of Communicating Systems: 17th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2005, Montreal, Canada, May 31: June 2, 2005, Proceedings

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ISBNs: 978-3-540-26054-7 (impreso) 978-3-540-32076-0 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2005 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

libros
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Testing of Communicating Systems: 18th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY, USA, May 16-18, 2006, Proceedings

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ISBNs: 978-3-540-34184-0 (impreso) 978-3-540-34185-7 (en línea)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
No detectada 2006 SpringerLink

Cobertura temática: Ingeniería eléctrica, electrónica e informática  

libros Acceso Abierto
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Texas and Southwestern Lore

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ISBNs: 9781574411041 (impreso)

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Institución detectada Año de publicación Navegá Descargá Solicitá
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Cobertura temática: Ciencias de la computación e información - Ingeniería eléctrica, electrónica e informática - Otras humanidades